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Elektronenmikroskopie
Geb. 22.02 Ebene U1 Raum 68
Universitätsstr. 1
40225 Düsseldorf

+49 (211) 81-10273

FIB-SEM Zeiss CrossBeam 550

Das Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) bietet neben der Möglichkeit zur konventionellen Rasterlektronenmikroskopie, Optionen die Oberflächen der Proben zu bearbeiten. Ausgestattet mit verschiedenen Detektoren können sowohl biologische als auch materialwissenschaftliche Proben untersucht werden. Die FIB-SEM ist mit einem Schottky Feldemitter, fokussiertem Ga2+-Strahl und Platin- und Kohlenstoff Gasinjektionssystemen ausgestattet.

Baujahr: 2020

Installation: 2020

Beschleunigungsspannung: bis 30 kV

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