Das Rasterelektronenmikroskop mit fokussiertem Ionenstrahl (FIB-SEM) bietet neben der Möglichkeit zur konventionellen Rasterlektronenmikroskopie, Optionen die Oberflächen der Proben zu bearbeiten. Ausgestattet mit verschiedenen Detektoren können sowohl biologische als auch materialwissenschaftliche Proben untersucht werden. Die FIB-SEM ist mit einem Schottky Feldemitter, fokussiertem Ga²⁺-Strahl und Platin- und Kohlenstoff Gasinjektionssystemen ausgestattet.

Baujahr: 2020

Installation: 2020

Beschleunigungsspannung: bis 30 kV